EDS是一個(gè)電子殼層的電子被外來粒子或者能量激發(fā)，留下一個(gè)空位，外層電子躍遷至這個(gè)空位，就會(huì)放出特征X射線，這樣不同殼層之間的電子轉(zhuǎn)移導(dǎo)致的能量差就會(huì)有不同的譜線，EDS譜線就是把這些特征X射線脈沖的累積分開得到的。

這樣一來，譜線越多，說明外面的電子占有殼層越多。而定量分析時(shí)是根據(jù)不同元素來選擇不同線系的譜峰強(qiáng)度以及這個(gè)元素的響應(yīng)值來做計(jì)算的，譜峰多跟元素含量沒有關(guān)系。

EDS能譜分析范圍

混合物，薄膜，腐蝕產(chǎn)物，顆粒物，粉末，芯片，瀝青，石墨等。

分析項(xiàng)目：EDS能譜分析

EDS能譜分析報(bào)告有哪些作用?

1、銷售使用。(有了第三方檢測報(bào)告，能讓自己的產(chǎn)品在銷售方面體現(xiàn)出一定的優(yōu)勢性)

2、改善產(chǎn)品質(zhì)量使用。(通過檢測報(bào)告數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問題所在，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本)

3、產(chǎn)品進(jìn)出口使用。

4、產(chǎn)品質(zhì)控及原因分析使用。

5、科研論文數(shù)據(jù)使用。

EDS能譜分析標(biāo)準(zhǔn)

GB/T束分析　分析電鏡(AEM/EDS)納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范

GB/T 表面化學(xué)分析　X射線光電子能譜　薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

GB/T束分析　掃描電鏡-能譜法　大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析

GB/T 俄歇電子能譜儀檢定方法