GJB4.11-83艦船電子設備環(huán)境試驗鹽霧試驗

本部分主要確定電子元器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評定金屬保護層的質量及其均勻性，特別適用于對類似保護層進行比較。本標準規(guī)定了艦船電子設備的元器件及零部件的鹽霧試驗，它是制定艦船電子設備總技術條件或產品標準等技術文件相應部分的基礎和選用的依據(jù).

鹽霧沉降率的數(shù)值應為1.0-2.0毫米/80厘米2.小時。鹽溶液的溫度應與箱溫一致，噴霧液不許重復使用。試驗采用間歇噴霧方法，在溫度35時，連續(xù)噴霧8小時，停止加熱，停止噴霧，在靜止和密閉狀態(tài)下保持16小時，共24小時為1個周期。檢測：按照有關標準規(guī)定，對樣品進行外觀檢查及電性能的檢測。實驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》（CNAS-CL01）《檢測和校準實驗室能力認可準則》）的